ESD-Richtlinien unzureichend (150 KB)

ESDFOS (Electrostatic Discharge From Outside to Surface)

PLUS 5/2010

LED-Detektive auf Fehlersuche (203 KB)

LED-Lebensdauer

Elektronik 12/2010

Wenn es knallt, ist der Popcorn-Effekt schuld (167 KB)

Kfz-Komponenten müssen einer größeren Löthitze Stand halten

E & E 6/2008

Die Lebensdauer zu kennen kann Kosten sparen (623 KB)

Ausfallrate elektronischer Bauteile im Vorfeld ermittelbar

Laser+Photonik 2/2008

Zuverlässigkeit contra Produktionskosten (0.9 MB)

Ausfallrate elektronischer Bauteile im Vorfeld ermittelbar (MTBF-Wert, FIT-Raten, WEIBULL)

E & E Select Automotive S1/2008

Stuttgarter Testlabor erweitert Test- und Prüfservice für LEDs (88 KB)

Fehleranalyse und Life-Test an LEDs

ElektronikPraxis online 14.04.08

microtec schließt Kooperation mit Herberg Service Plus (71 KB)

Testlabor und EMV-Labor bieten gemeinsam mehr Service

Elektronikpraxis, 21/2007

Warum Zuverlässigkeitstests an LEDs? (220 KB) -Teil 2-

Produktions- und Zuverlässigkeitstests an LEDs

productronic, 10/2007

25 Jahre microtec (157 KB)

Zuverlässigkeit seit 25 Jahren - ein Portrait

productronic-Spezial Dienstleistungen, 8-9/2007

Klassifizierung von LEDs (121 KB)

Augensicherheitsprüfung nicht nur für Laserdioden, sondern auch für LEDs

Elektronikpraxis, 15/2007

Warum Zuverlässigkeitstests an LEDs? (79 KB) -Teil 1-

LED-Lebensdauertest und -Selektion

8-9/2007

Dem Alter ein Schnippchen schlagen (2.1 MB)

Studie zur Alterung & Verarbeitbarkeit von Automobilelektronik

E&E, 9/2007

Verschärfte Lötprofilqualifikation für Automotive (289 KB)

Durchführen von Lötprofilqualifikation bleifrei / für Automotive

PLUS, 8/2007

Wenn das Licht schwindet

Qualifikation von LEDs

EPP, 7-8/2007

Alterungsmechanismen, optimales Einlagern von Ersatzteilen (223 KB)

Lagerung und Verarbeitbarkeit gelagerter Elektronik

PLUS, 6/2007

Das Auto steht - was nun? (337 KB)

entwicklungsbegleitende Fehleranalysen

E&E Sonderheft Automotive 4/2007

Destructive physical analysis (170 KB)

DPA als Methode zur Erkennung der Fehlerursache

Quality Engineering 4/2007

Zerstörende physikalische Qualifikation
von Bauelementen (158 KB)

DPA zur Bestimmung der Langzeitzuverlässigkeit

Elektronik Sonderheft
Messen+Testen 5/2006

Digitale Logik lernt sehen (595 KB)

CMOS- und CCD-Imagesensoren
richtig testen

Laser&Photonik, 1/2006

Qualitätsrisiken an Kabeln (562 KB)

Fehleranalyse entlarvt Fehler

PLUS 10/2005

Klare Perspektive - längere Lebensarbeitszeit (180 KB)

langjährige Erfahrung der Mitarbeiter positiv

Wirtschaftswoche 32/2005

Interview der Woche (155 KB)

Geschäftsführer Reinhard Pusch im Gespräch

Markt&Technik 23/2005

Testen schon im Vorfeld (137 KB)

Qualitätssicherung Automotive

Markt&Technik, 18/2005

Optische Leiterplatte (127 KB)

Messe SMT

SMT-Messezeitung 05

neue Dienstleistung Optoelektronik (99 KB)

Messe SMT

productronic 4/2005

Im Auftrag für Zuverlässigkeit (326 KB)

Firmenportrait

EPP 3-4/2005

Popcorn-Effekt (358 KB)

Langzeitzuverlässigkeit von Halbleiter-Gehäusen

QZ 4/2004,
EPP 3/2004

Multiplexer für HF-Tests (111 KB)

High-Speed-Halbleitertests

QZ 1/2004,
EPP 1/2004