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Publizierte Fachartikel

Publizierte Artikel in Fachmagazinen:

2022

Titel Magazin / Copy Right
Veröffentlicht
Sprache
 Wie der IC-Test auch in Europa klappt Markt & Technik KW 50-51 / 2022 Deutsch

Seminararchiv

2015

Titel Tutorial / Event Datum
Failure mechanisms and Risk on LEDs and LED Systems SMT, Nuremberg 5-7 Mai
Failure Analysis going towards Anamnesis - a holistic approach for successful root cause detection SMT, Nuremberg 5-7 Mai
PCB-Forum: Fehlerbilder von Leiterplatten und Baugruppen SMT, Nuremberg 5-7 Mai

2014

Titel Tutorial / Event Datum
Robuste Halbleiter Komponenten - Erfolge und Risiken Euroforum, Düsseldorf 4-5 November
Herausforderungen für passive Komponenten in neuen Anwendungen Euroforum, Düsseldorf 4-5 November